Колпаков Всеволод Анатольевич

Scopus/WoS

2020

• 1 Kolpakov V.A., Krichevskii S.V. Diffusion Mechanism in Aluminum–Silicon Structures Surface-Irradiated by Off-Electrode Plasma of a High-Voltage Gas Discharge // Technical Physics 2020. — Vol. 65. Issue 1. — P. 57-62
• 2 Markushin M.A., Kolpakov V.A., Krichevskii S.V. Specific Features of the Distribution of Nonuniform Electrostatic Field in a System with Variable Configuration of Electrodes That Generates High-Voltage Gas Discharge // Technical Physics 2020. — Vol. 65. Issue 12. — P. 1956-1962

2019

• 1 Markushin M.A., Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V. Influence of electric field distribution on the charged particles kinetics of the off-electrode plasma formed by high-voltage gas discharge // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2019. — Vol. 11146.

2017

• 1 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V. etc. A gas-discharge plasma focuser // Instruments and Experimental Techniques 2017. — Vol. 60. Issue 5. — P. 748-751
• 2 Ivliev N.A., Kolpakov V.A., Krichevskii S.V. etc. Determination of Concentration of Organic Contaminants on a Silicon Dioxide Surface by Tribometry // Measurement Techniques 2017. — P. 1-5
• 3 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V. etc. Simulations of dynamic resistive evaporation in a vacuum // Technical Physics 2017. — Vol. 62. Issue 10. — P. 1490-1495
• 4 Markushin M.A., Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V. Calculation of the electrostatic field distribution formed by the generator of the off-electrode plasma // CEUR Workshop Proceedings. — 2017. — Vol. 1904. — P. 93-99
• 5 Kolpakov V.A., Krichevsky S.V., Podlipnov V.V. A resistive dynamic evaporator for multicomponent materials // Instruments and Experimental Techniques 2017. — Vol. 60. Issue 2. — P. 297-300
• 6 Ivliev N.A., Kolpakov V.A., Krichevskii S.V. etc. Determination of Concentration of Organic Contaminants on a Silicon Dioxide Surface by Tribometry // MEASUREMENT TECHNIQUES 2017. — Vol. 60. Issue 9. — P. 869-873
• 7 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A. Optical materials: Microstructuring surfaces with off-electrode plasma2017. 190p.
• 8 Kolpakov V.A., Krichevskii S.V., Markushin M.A. Kinetics of charged particles in a high-voltage gas discharge in a nonuniform electrostatic field // Journal of Experimental and Theoretical Physics 2017. — Vol. 124. Issue 1. — P. 164-171
• 9 Podlipnov V.V., Kolpakov V.A. Morphology and optical properties of thin CdTe films // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2017. — Vol. 10342.
• 10 Markushin M.A., Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V. Software for analysis of the process of formation of the catalytic mask in the off-electrode plasma // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2017. — Vol. 10342.

2016

• 1 Podlipnov V.V., Kolpakov V.A., Kazanskiy N.L. Etching of silicon dioxide in off-electrode plasma using a chrome mask // Computer Optics 2016. — Vol. 40. Issue 6. — P. 830-836
• 2 Ivliev N.A., Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V. Determination of organic contaminants concentration on the silica surface by lateral force microscopy // Computer Optics 2016. — Vol. 40. Issue 6. — P. 837-843

2015

• 1 Markushin M.A., Kolpakov V.A., Krichevskii S.V. etc. Simulation of the electric field distribution in the electrode system of a device forming a high-voltage gas discharge // Technical Physics 2015. — Vol. 60. Issue 3. — P. 376-380
• 2 Kolpakov V.A., Krichevskiy S.V., Markushin M.A. A device for monitoring the distribution of particles of off-electrode high-voltage gas-discharge plasma over the stream cross section using the curved-cavity method // Instruments and Experimental Techniques 2015. — Vol. 58. Issue 5. — P. 653-656
• 3 Kolpakov V.A., Kolpakov A.I., Krichevskiy S.V. A multibeam generator of gas-discharge plasma // Instruments and Experimental Techniques 2015. — Vol. 58. Issue 5. — P. 683-686
• 4 Kolpakov V.A., Podlipnov V.V. Mechanism of interaction between a directed beam of negative particles from a gas-discharge plasma and the melted nickel surface // Technical Physics 2015. — Vol. 60. Issue 1. — P. 53-56
• 5 Kolpakov V.A., Ivliev N.A. Atomic-molecular model of boundary friction in microtribocontacts between the surfaces of semiconducting and dielectric materials // Technical Physics 2015. — Vol. 60. Issue 6. — P. 922-927

2014

• 1 Kolpakov V.A., Kolpakov A.I., Krichevskii S.V. A source of a wide-aperture gas-discharge plasma flow // Instruments and Experimental Techniques 2014. — Vol. 57. Issue 2. — P. 147-154
• 2 Kolpakov V.A., Ivliev N.A. Measuring the surface purity of substrates by the tribometry method // Instruments and Experimental Techniques 2014. — Vol. 57. Issue 5. — P. 640-645
• 3 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A., Podlipnov V.V. Gas discharge devices generating the directed fluxes of off-electrode plasma // Vacuum 2014. — Vol. 101. — P. 291-297

2013

• 1 Kolpakov V.A., Kolpakov A.I., Podlipnov V.V. Formation of an out-of-electrode plasma in a high-voltage gas discharge // Technical Physics 2013. — Vol. 58. Issue 4. — P. 505-510
• 2 Kolpakov V.A., Novomeiskii D.N., Novozhenin M.P. Determination of the surface temperature of a sample in the region of its interaction with a nonelectrode plasma flow using the Kirchhoff transformation of a quadratic function // Technical Physics 2013. — Vol. 58. Issue 11. — P. 1554-1557

2009

• 1 Kazanskii N.L., Kolpakov V.A. Effect of bulk modification of polymers in a directional low-temperature plasma flow // Technical Physics 2009. — Vol. 54. Issue 9. — P. 1284-1289

2008

• 1 Kazanskiy N.L., Karpeev S.V., Kolpakov V.A. etc. Interaction of dielectric substrates in the course of tribometric assessment of the surface cleanliness // Optical Memory and Neural Networks (Information Optics) 2008. — Vol. 17. Issue 1. — P. 37-42
• 2 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A., Kolpakov A.I. etc. Parameter optimization of a tribometric device for rapid assessment of substrate surface cleanliness // Optical Memory and Neural Networks (Information Optics) 2008. — Vol. 17. Issue 2. — P. 167-172
• 3 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A., Paranin V. D. etc. The method of thin metal films adhesion increasing for the lowered dimensions structures // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2008. — Vol. 7025.

2007

• 1 Kazanskiǐ N.L., Kolpakov A.I., Kolpakov V.A. etc. Temperature measurement of a surface exposed to a low-temperature plasma flux // Technical Physics 2007. — Vol. 52. Issue 12. — P. 1552-1556
• 2 KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V. A., KOLPAKOV A.I. etc. Исследование особенностей трибометрического взаимодействия диэлектрических подложек при экспресс – контроле степени чистоты их поверхности // Computer Optics 2007. — № том 31, № 1. — P. 42-46

2006

• 1 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A., Kritchevskiy S.V. Simulating the process of dielectric substrate surface cleaning in high-voltage gas discharge plasma // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2006. — Vol. 6260.

2005

• 1 KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V. A., KRIChEVSKIY SERGEY VASILEVICh Моделирование процесса очистки поверхности диэлектрических подложек в плазме газового разряда высоковольтного типа // Computer Optics 2005. — № № 28. — P. 80-86
• 2 KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V. A., KOLPAKOV A.I. etc. Оптимизация параметров устройства трибометрического измерения чистоты поверхности подложек // Computer Optics 2005. — № № 28. — P. 76-79

2004

• 1 Kazanskij N.L., Kolpakov V.A., Kolpakov A.I. Anisotropic etching of SiO2 in high-voltage gas-discharge plasma // Mikroelektronika 2004. — Vol. 33. Issue 3. — P. 209-225
• 2 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A. Simulation of technological process of microstructures etching in high-voltage gas discharge plasma // Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. — 2004. — Vol. 5401. — P. 648-654
• 3 Kazanskii N.L., Kolpakov V.A., Kolpakov A.I. Anisotropic etching of SiO2 in high-voltage gas-discharge plasmas // Russian Microelectronics 2004. — Vol. 33. Issue 3. — P. 169-182

2003

• 1 KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V. A. Исследование механизмов формирования низкотемпературной плазмы газовым разрядом высоковольтного типа // Computer Optics 2003. — № № 25. — P. 112-117

2002

• 1 Kolpakov V.A. Modeling the high-voltage gas-discharge-plasma etching of SiO2 // Mikroelektronika 2002. — Vol. 31. Issue 6. — P. 431-441
• 2 Kolpakov V.A. Modeling the High-Voltage Gas-Discharge-Plasma Etching of SiO2 // Russian Microelectronics 2002. — Vol. 31. Issue 6. — P. 366-374
• 3 KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V. A., KOLPAKOV A.I. Исследование механизма формирования каталитической маски при облучении структуры алюминий–кремний частицами газового разряда высоковольтного типа // Computer Optics 2002. — № № 24. — P. 84-90

2001

• 1 VOLKOV A. V., KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V. A. Расчет скорости плазмохимического травления кварца // Computer Optics 2001. — № №21. — P. 121-125

1999

• 1 Kolpakov V.A., Kolpakov A.I. Investigation of the entrainment of silicon atoms by "vacancies" formed in an aluminum melt when its surface is exposed to an ion-electron flux // Technical Physics Letters 1999. — Vol. 25. Issue 8. — P. 618-620

1995

• 1 Kolpakov V.A., Kolpakov A.I., Krichevskij S.V. A device for the express-control of the surface finish of dielectric substrates // Pribory i Tekhnika Eksperimenta 1995. — Issue 5. — P. 199-200

Монографии

2017

• 1 Kazanskiy N.L., Kolpakov V.A. Optical materials: Microstructuring surfaces with off-electrode plasma2017. 190p.

2013

• 1 ШАХМАТОВ Е.В., КОЛПАКОВ В. А. Методика обеспечения и оценки качества результатов деятельности аэрокосмического университета Раздел 1.1 в книге ОБЕСПЕЧЕНИЕ И ОЦЕНКА КАЧЕСТВА АЭРОКОСМИЧЕСКОГО ОБРАЗОВАНИЯ Москва: МАИ, 2013. 552с.

2011

• 1 KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV V.A. Temperature Measurement of a Surface Exposed to a Plasma Flux Generated Out-side the Electrode Gap. Chapter in book 2 HEAT CONDUCTION Edited by Prof. Dr. Vyacheslav S. VikhrenkoBelarus: Belarus: InTech - Open Access Publish-er, – ISBN 979-953-307-656-9., 2011. 32p.

2009

• 1 Казанский Н.Л., Колпаков В.А. Формирование оптического микрорельефа во внеэлектродной плазме высоковольтного газового разряда Москва: Радио и связь, 2009. 223с.

ВАК

2020

• 1 Маркушин М.А., Колпаков В.А., Кричевский С.В. Особенности распределения неоднородного электростатического поля в системе с изменяемой конфигурацией электродов устройства, формирующего высоковольтный газовый разряд // Журнал технической физики. — 2020. — Т. 90. № 12. — С. 2047-2053
• 2 Колпаков В.А., Кричевский С.В. Особенности механизма диффузии в структуре алюминий-кремний при облучении ее поверхности внеэлектродной плазмой высоковольтного газового разряда // Журнал технической физики. — 2020. — Т. 90. № 1. — С. 62-68

2017

• 1 Ивлиев Н.А., Колпаков В.А., Кричевский С.В. и др. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методом трибометрии // Измерительная техника. — 2017. — № 9. — С. 12-15
• 2 Казанский Н.Л., Колпаков В.А., Кричевский С.В. и др. Фокусатор газоразрядной плазмы // Приборы и техника эксперимента. — 2017. — № 5. — С. 142-145
• 3 Колпаков В.А., Кричевский С.В., Маркушин М.А. Особенности кинетики заряженных частиц высоковольтного газового разряда в неоднородном электростатическом поле // Журнал Экспериментальной и Теоретической Физики. — 2017. — Т. 151. № 1. — С. 189-198
• 4 Колпаков В.А., Кричевский С.В., Подлипнов В.В. Резистивный динамический испаритель многокомпонентных материалов // Приборы и техника эксперимента. — 2017. — № 2. — С. 152-155
• 5 Казанский Н.Л., Колпаков В.А., Кричевский С.В. и др. Моделирование процесса резистивного динамического испарения в вакууме // Журнал технической физики. — 2017. — Т. 87. № 10. — С. 1483-1488

2015

• 1 КОЛПАКОВ В. А., ПОДЛИПНОВ В.В. Исследование механизма взаимодействия направленного потока отрицательных частиц газоразрядной плазмы с поверхностью расплава никеля // Журнал технической физики. — 2015. — № том 85, выпуск 1. — С. 52-55
• 2 Колпаков В.А., МАРКУШИН МАКСИМ АНАТОЛЬЕВИЧ, Кричевский С.В. и др. Моделирование распределения элктростатического поля в системе электродов устройства, формирующего высоковольтный газовый разряд // Журнал технической физики. — 2015. — Т. 85. № 3 . — С. 60-64
• 3 КОЛПАКОВ В. А., ИВЛИЕВ Н.А. Атомно-молекулярная модель граничного трения в микротрибоконтактах поверхностей полупроводниковых и диэлектрических материалов // Журнал технической физики. — 2015. — № Том 85, выпуск 6. — С. 137-142
• 4 КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И., КРИЧЕВСКИЙ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ Многолучевой генератор газоразрядной плазмы // Приборы и техника эксперимента. — 2015. — № № 5. — С. 108-111
• 5 Маркушин М. А. , Колпаков В. А. , Кричевский С. В. и др. Simulation of the electric field distribution in the electrode system of a device forming a high-voltage gas discharge // Technical Physics. — 2015. — Т. 60. Вып. 3. — С. 376-380
• 6 КОЛПАКОВ В. А., КРИЧЕВСКИЙ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, МАРКУШИН МАКСИМ АНАТОЛЬЕВИЧ Устройство контроля распределения частиц внеэлектродной плазмы высоковольтного газового разряда по сечению потока методом изогнутой полости // Приборы и техника эксперимента. — 2015. — № № 5. — С. 75-79
• 7 Колпаков В. А. , Подлипнов В. В. Mechanism of interaction between a directed beam of negative particles from a gas-discharge plasma and the melted nickel surface // Technical Physics. — 2015. — Т. 60. Вып. 1. — С. 53-56

2014

• 1 КРИЧЕВСКИЙ С.В., КОЛПАКОВ В.А., КОЛПАКОВ А.И. Генератор широкоапертурного потока газоразрядной плазмы // Приборы и техника эксперимента. — 2014. — № т.2. — С. 60
• 2 ИВЛИЕВ Н.А., КОЛПАКОВ В. А. ИЗМЕРЕНИЕ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ ПОДЛОЖЕК МЕТОДОМ ТРИБОМЕТРИИ // ПРИБОРЫ И ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА. — 2014. — № – №5. — С. 129-134

2013

• 1 КОЛПАКОВ В.А., Новомейский Д.Н, Новоженин М.Р. Определение температуры поверхности образца в области ее взаимодействия с потоком внеэлектродной плазмы с помощью преобразования Кирхгофа квадратичной функции // Журнал технической физики. — 2013. — № №11(83).
• 2 КОЛПАКОВ А.И., КОЛПАКОВ В.А., Подлипнов В.В. Исследование особенностей формирования внеэлектродной плазмы высоковольтным газовым разрядом // Журнал технической физики. — 2013. — Т. 83. № 4. — С. 41-46
• 3 КОЛПАКОВ В.А., ИВЛИЕВ Н.А., КОЛПАКОВ А.И, и др. Устройство контроля чистоты поверхности подложек методом трибометрии // Вестник СГАУ. — 2013. — № – Т.39. – №1.. — С. 222-229

2012

• 1 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ А.И., КОЛПАКОВ В.А. и др. Газоразрядные приборы, формирующие направленные потоки внеэлектродной плазмы. Ч. I. Анализ и конструктивные особенности приборов // Научное приборостроение. — 2012. — № 22(1). — С. 13-18
• 2 Подлипнов В.В., Казанский Н.Л., Колпаков В.А. и др. Газоразрядные приборы, формирующие направленные потоки внеэлектродной плазмы. Ч. II. Результаты модификации. Новые приборы // Научное приборостроение. — 2012. — № Т. 22, № 2. — С. 44-50

2010

• 1 КОЛПАКОВ В.А., ИВЛИЕВ Н.А., КРИЧЕВСКИЙ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ Анализ методов экспресс-контроля чистоты поверхности // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета. – Самара: СГАУ, 2010. – №4. — 2010. — № № 4 (24). — С. 193-201

2009

• 1 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А. Эффект объемной модификации полимеров в направленном потоке низкотемпературной плазмы // Журнал технической физики. — 2009. — № том 79, выпуск 9. — С. 41-46

2007

• 1 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И. и др. Метод определения температуры поверхности в области ее взаимодействия с потоком низкотемпературной плазмы // Журнал технической физики. — 2007. — № том 77, выпуск 12. — С. 21-25
• 2 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И. и др. Исследование особенностей трибометрического взаимодействия диэлектрических подложек при экспресс – контроле степени чистоты их поверхности // Компьютерная оптика. — 2007. — № том 31, № 1. — С. 42-46
• 3 КОЛПАКОВ В. А. Механизм адгезии в структурах металл – диэлектрик после бомбардировки потоком заряженных частиц. Часть 2. Влияния параметров бомбардировки на адгезию // Физика и химия обработки материалов. — 2007. — № № 1. — С. 53-58

2006

• 1 КОЛПАКОВ В. А. Механизм адгезии в структурах металл – диэлектрик после бомбардировки потоком заряженных частиц. Часть 1. Моделирование механизма увеличения адгезии // Физика и химия обработки материалов. — 2006. — № № 5. — С. 41-48
• 2 СОЙФЕР ВИКТОР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ГРЕЧНИКОВ Ф.В., КУЗЬМИЧЕВ В.С. и др. Система управления качеством образования в университете на основе информационных технологий // Университетское управление: практика и анализ. — 2006. — № № 5 (45). — С. 92-97

2005

• 1 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А., КРИЧЕВСКИЙ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ Моделирование процесса очистки поверхности диэлектрических подложек в плазме газового разряда высоковольтного типа // Компьютерная оптика. — 2005. — № № 28. — С. 80-86
• 2 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И. и др. Оптимизация параметров устройства трибометрического измерения чистоты поверхности подложек // Компьютерная оптика. — 2005. — № № 28. — С. 76-79

2004

• 1 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И. Исследование особенностей процесса анизотропного травления диоксида кремния в плазме газового разряда высоковольтного типа // Микроэлектроника. — 2004. — № том 33, № 3. — С. 209-224

2003

• 1 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А. Исследование механизмов формирования низкотемпературной плазмы газовым разрядом высоковольтного типа // Компьютерная оптика. — 2003. — № № 25. — С. 112-117

2002

• 1 КОЛПАКОВ В. А. Моделирование процесса травления диоксида кремния в плазме газового разряда высоковольтного типа // Микроэлектроника. — 2002. — № том 31, №6. — С. 431-440
• 2 КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И. Исследование механизма формирования каталитической маски при облучении структуры алюминий–кремний частицами газового разряда высоковольтного типа // Компьютерная оптика. — 2002. — № № 24. — С. 84-90

2001

• 1 ВОЛКОВ А. В., КАЗАНСКИЙ Н.Л., КОЛПАКОВ В. А. Расчет скорости плазмохимического травления кварца // Компьютерная оптика. — 2001. — № №21. — С. 121-125

1999

• 1 КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И. Исследование эффекта увлечения атомов кремния «вакансиями», возникающими в расплаве алюминия при облучении его поверхности ионно-электронным потоком // Письма в журнал технической физики. — 1999. — № том 25, выпуск 15. — С. 58-65

1998

• 1 КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И., Маклашов В.А. и др. Устройство экспресс-контроля параметров полупроводниковых приборов // Приборы и техника эксперимента. — 1998. — № №6. — С. 142

1995

• 1 КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И., КРИЧЕВСКИЙ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ Устройство экспресс-контроля чистоты поверхности диэлектрических подложек // Приборы и техника эксперимента. — 1995. — № 5. — С. 199-200

Другие

2022

• 1 Кутурин В.А., Колпаков В.А., Кричевский С.В. Анализ метода импедансной спектроскопии плазмы // Всероссийская научно-техническая конференция " Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций". — 2022. — С. 99-101

2019

• 1 Маркушин М.А., Колпаков В.А., Кричевский С.В. Исследование кинетики заряженных частиц в системе электродов, формирующих высоковольтный газовый разряд // V Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2019). — 2019. — Т. 3. — С. 121-130
• 2 Николаев А.В., Маркушин М.А., Колпаков В.А. Исследование влияния каталитической маски во внеэлектродной плазме с помощью разработанного программного обеспечения // Всероссийская конференция "Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций". — 2019. — С. 138-140

2018

• 1 Колпаков В.А., Кричевский С.В., Маркушин М.А. Исследование влияния распределения электрического поля на кинетику заряженных частиц внеэлектродной плазмы, формируемой высоковольтным газовым разрядом // XVI Международная научно-техническая конференция “Оптические технологии в телекоммуникациях”. — 2018. — Т. 1. — С. 412-413

2017

• 1 Podlipnov Vladimir Vladimirovich, Kolpakov V.A. Experimental study of the re-emission during thin film etching in the outside the electrodes discharge plasma // Приборостроение, электроника и телекоммуникации – 2016. — 2017. — P. 81-85
• 2 Ивлиев Н.А., Колпаков В.А. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций. — 2017. — С. 182-184
• 3 Ivliev N.A., Kolpakov V.A., Kolpakov V.A. etc. Determination of organic contaminants concentration on the silica surface by lateral force microscopy // Приборостроение, электроника и телекоммуникации – 2016. — 2017. — P. 34-41
• 4 Стариков И.В., Колпаков В.А., Кричевский С.В. и др. Исследование испарителя многокомпонентных материалов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций. — 2017. — С. 175-179

2016

• 1 Столбинский Д.В., Колпаков В.А., Кричевский С.В. и др. Контроль распределения частиц внеэлектродной плазмы по сечению ее потока методом изогнутой полости // V-я Международная молодежная научная школа-конференция "Современные проблемы физики и технологий". — 2016. — Ч. 1. — С. 346-348
• 2 Маркушин М.А., Стариков И.В., Клюев А.Д. и др. Программное обеспечение исследования процессов формирования каталитической маски оптических элементов во внеэлектродной плазме // XIV Международная научная конференция «Оптические технологии в телекоммуникациях» (ОТТ-2016 ). — 2016. — С. 84-85
• 3 Подлипнов В.В., Колпаков В.А., Струкель Ю.С. ИССЛЕДОВАНИЕ ВЗАИМОДЕЙСТВИЯ НАПРАВЛЕННОГО ИОННО-ЭЛЕКТРОННОГО ПОТОКА С ПОВЕРХНОСТЬЮ РАСПЛАВА НИКЕЛЬ-КРЕМНИЙ // ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ И НАНОТЕХНОЛОГИИ (КОНФЕРЕНЦИЯ ИТНТ-2016). — 2016. — С. 78-83
• 4 Колпаков В.А., Кричевский С.В., Графкин В.В. и др. Генератор внеэлектродной плазмы с полым катодом // Международная конференция и молодежная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (Конференция ИТНТ-2016) 17 – 19 мая 2016 года. — 2016. — С. 192-198
• 5 Колпаков В.А., Кричевский С.В., Маркушин М.А. и др. Многолучевой генератор плазмы для изготовления сплавных контактов полупроводниковых диодов // ВСЕРОССИЙСКАЯ НАУЧНО­ТЕХНИЧЕСКАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «АКТУАЛЬНЫЕ ПРОБЛЕМЫ РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ И ТЕЛЕКОММУНИКАЦИЙ» 18­-20 мая 2016 г.. — 2016. — С. 148-150
• 6 Колпаков В.А., Кричевский С.В., Графкин В.В. и др. Устройство контроля равномерности распределения частиц по сечению потока внеэлектродной плазмы // Международная конференция и молодежная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (Конференция ИТНТ-2016) 17 – 19 мая 2016 года. — 2016. — С. 179-185

2014

• 1 Podlipnov. V.V., Kolpakov V.A. Off-electrode plasma for micrco- and nanotechnology // Nanostructures: phisics and technology (Nano 2014). — 2014. — P. 275-276
• 2 Подлипнов В.В., Кричевский С.В., Колпаков В.А. и др. Исследование механизма взаимодействия частиц направленного потока газоразрядной плазмы с поверхностью структуры расплав никель-кремний // Всероссийская научно-техническая конференция «Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций». — 2014. — С. 149-154

2013

• 1 KOLPAKOV V.A., KAZANSKIY N.L., KOLPAKOV A.I. etc. Device for Checking the Surface Finish of Substrates by Tribometry Method // Friction and Wear Research (FWR). – Science and Engineering Publishing Company, 2013 2013. — № 1. — P. 10-14
• 2 ИВЛИЕВ Н.А., КОЛПАКОВ В.А. Устройство контроля атомно-молекулярных загрязнений на поверхности полупроводниковых и диэлектрических подложек // Всероссийская молодежная конференция по фундаментальным вопросам и инновационным аспектам современной физики. — 2013. — С. 107

2012

• 1 КОЛПАКОВ В.А., КОЛПАКОВ А.И., КРИЧЕВСКИЙ С.В. Устройство формирования внеэлектродной плазмы высоковольтного газового разряда // <<Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций>>. — 2012. — С. 298-299
• 2 КОЛПАКОВ В.А., КОЛПАКОВ А.И., КРИЧЕВСКИЙ С.В. Ионно-плазменная очистка контактов реле // <<Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций>>. — 2012. — С. 297-298

2011

• 1 Бозриков В.С., КОЛПАКОВ А.И., КОЛПАКОВ В.А. и др. Устройство для исследования электрофи-зических параметров широкоформатного потока низкотемпературной плазмы // Всероссийская научно-техническаяой конференция Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций / под ред. И.Г. Мироненко, М.Н. Пиганова. — 2011. —
• 2 ИВЛИЕВ Н.А., КОЛПАКОВ В.А. Mechanism of Microtribometric Interaction of Semiconductor afers in Assessment of Surface Cleanliness // Abstracts of Asia-Pacific Conference on Fundamental Problems of Opto- and Microelectronics, 1 DVD-ROM, presentation number 29, ISBN 978-5-902622-20-8.. — 2011. —
• 3 КОЛПАКОВ В.А., ПОДЛИПНОВ В.А. Periodic Structure of Porous Silicon Formed in Outside the Electrodes Discharge Plasma // Abstracts of Asia-Pacific Conference on Fundamental Problems of Opto- and Microelectronics, 1 DVD-ROM, presentation number 28, ISBN 978-5-902622-20-8.. — 2011. —
• 4 ИВЛИЕВ Н.А., КОЛПАКОВ В.А. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности полупровод-никовых пластин при формировании дифракционного микрорельефа // Международная научная конференция “Приоритетные направления научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения” (State-of-the-art trends of scientific researches of artificial and natural nanoobjects, STRANN).. — 2011. —
• 5 КОЛПАКОВ В.А., ПОДЛИПНОВ В.А. Исследование процессов травления крем-ния во внеэлектродной плазме высоко-вольтного газового разряда // Региональная научно-практическая конференция, посвящённая 50-летию первого полёта человека в космос.. — 2011. —
• 6 КОЛПАКОВ В.А., КОЛПАКОВ А.И., КРИЧЕВСКИЙ С.В. Устройство для исследования электрофизических параметров широкоформатных потоков низко-температурной // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций. — 2011. — С. 233-234
• 7 КОЛПАКОВ В.А., ЧЕРНОВ А. А, ПАНКОВ А.А. Роль системы менеджмента качества в развитии университетского образования // V Международная научно-практическая конференция Информационная среда ВУЗа XXI века. — 2011. —
• 8 ПОДЛИПНОВ В.А., КОЛПАКОВ В.А. Формирование упорядоченных структур пористого кремния во внеэлектродной плазме // Международная научная конференция “Приоритетные направления научных исследований нанообъектов искусственного и природного происхождения” (State-of-the-art trends of scientific researches of artificial and natural nanoobjects, STRANN).. — 2011. —

2010

• 1 КОЛПАКОВ В.А., ПОДЛИПНОВ В.В. Травление кремния во внеэлектродной плазме высоковольтного газового разряда // Международная конференция с элементами научной школы для молодежи Перспективные информационные технологии для авиации и космоса. — 2010. — С. 930-933
• 2 КУЗЬМИЧЕВ В.С., ЛАНСКИЙ А.М., ПАШКОВ Д.Е. и др. Разработка и внедрение информационно-аналитической системы мониторинга деятельности подразделений и количественной оценки качества результатов работы университета // Новые информационные технологии и менеджмент качества. — 2010. — С. 154-156
• 3 КОЛПАКОВ А.И., КОЛПАКОВ В.А., Скоморохов И.Ф. Исследование механизма аномального растворения кремния в расплаве алюминия при облучении его поверхности потоком низкотемпературной плазмы // Всероссийская научно-техническая конференция <<Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций>>. — 2010. — С. 35

2009

• 1 Кузьмичев В.С., Колпаков В.А. Практический опыт, результаты внедрения и подходы к развитию системы управления качеством образования СГАУ // Актуальные проблемы развития университетского технического образования в России. — 2009. — С. 129-132
• 2 Кузьмичев В.С., Ланский А.М., Колпаков В.А. и др. Система менеджмента качества Самарского государственного аэрокосмического университета // III международная научно-практическая конференция «Информационная среда ВУЗа XXI века». — 2009. — С. 134-136
• 3 КУЗЬМИЧЕВ В.С., ЛАНСКИЙ А.М., КОЛПАКОВ В. А. и др. Практическая реализация системы менеджмента качества СГАУ с использованием информационных технологий // VI международная научно-методическая конференция "Новые образовательные технологии в вузе". — 2009. — С. 345-347

2008

• 1 КУЗЬМИЧЕВ В.С., ЛАНСКИЙ А.М., КОЛПАКОВ В. А. и др. Создание системы менеджмента качества СГАУ с использованием информационных технологий // III международная научно-практическая конференция «Информационная среда ВУЗа XXI века». — 2008. — С. 99-100

2007

• 1 КУЗЬМИЧЕВ В.С., ЛАНСКИЙ А.М., КОЛПАКОВ В. А. и др. Создание системы менеджмента качества университета на основе информационных технологий // Всероссийская научно - практическая конференция "Информационные технологии в науке, образовании и производстве". — 2007. — С. 623-625

2006

• 1 КУЗЬМИЧЕВ В.С., ЛАНСКИЙ А.М., САМСОНОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ и др. Стратегия формирования внутривузовской системы управления качеством образования в Самарском государственном аэрокосмическом университете // Вестник Учебно - методического совета Самарского государственного университета: мониторинг качества образования. — 2006. — № № 38. — С. 14-18
• 2 N.L. Kazanskiy, V.A. Kolpakov Studies into mechanisms of generating a low-temperature plasma in high-voltage gas discharge // Optical Memory and Neural Networks 2006. — № № 4. — P. 163-169
• 3 СОЙФЕР ВИКТОР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ГРЕЧНИКОВ Ф.В., КУЗЬМИЧЕВ В.С. и др. Система управления качеством образования Самарского государственного аэрокосмического университета на основе интегрированной автоматизированной информационной системы // XIII - ая Всероссийская научно - методическая конференция "Телематика - 2006". — 2006. — С. 134-136
• 4 КУЗЬМИЧЕВ В.С., САМСОНОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ, ЛАНСКИЙ А.М. и др. Стратегия формирования внутривузовской системы управления качеством образования // II - ая Международная научно - практическая конференция «Стремление к совершенству через управление качеством». — 2006. — С. 43-46

2005

• 1 N.L. Kazanskiy, V.A. Kolpakov, KOLPAKOV A.I. Studies into a Mechanism of Catalytic Mask Generation in Irradiation of an Al-Si Structure with High-Voltage Gas-Discharge Particles // Optical Memory and Neural Networks 2005. — № Volume 14, # 3. — P. 151-159

2003

• 1 N.L. Kazanskiy, V.A. Kolpakov Simulation of technological process by etching of microstructures in high-voltage gas discharge plasma // Micro- and nanoelectronics-2003. — 2003. — P. P1-53

1996

• 1 КОЛПАКОВ В. А., КОЛПАКОВ А.И., КРИЧЕВСКИЙ СЕРГЕЙ ВАСИЛЬЕВИЧ Ионно-плазменная очистка поверхности контактов реле малой мощности // Электронная промышленность. — 1996. — № №2. — С. 41-44