Растровая электронная микроскопия

АНАЛИТИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП

С БОЛЬШОЙ КАМЕРОЙ И УВЕЛИЧЕННЫМ МОТОРИЗОВАННЫМ СТОЛИКОМ

TESCAN VEGA

Уникальная четырехлинзовая электронная оптика с использованием промежуточной линзы для оптимизации формы и размера пучка, запатентованная компанией Tescan,предназначена для получения изображений в различных режимах;

Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают быстрое достижение рабочего вакуума;

Широкий выбор детекторов и аксессуаров.

разрешение	3,0нм при 30Кв
рабочий вакуум	более 1х10²Па
рабочие режимы	разрешение, глубина, поле, широкое поле, каналирование
увеличение	непрерывное от 4х до 1000 000х
ускоряющее напряжение	от 200В до 30кВ
источник электронов	вольфрамовый катод с термоэлектронной эмиссией
особенности сканировангия	динамический фокус, сканирование по линии в точке, коррекция наклона образца, 3D пучок
размер изображения	до 8192х8192 пикселей, 65536 градаций серого, 3 размера изображения в реальном времени, 10 для записи в файл, соотношение сторон 1:1, 2:1 или 4:3
управление микроскопом	графический интерфейс Vega на персональном компьютере под управлением Windows^TM, с использованием клавиатыры, ,мыши трекбола
автоматические процедуры	контроль вакуума, накал катода, юстировка пушки, центрирование пушки и апертуры в различных режимах сканирования, подстройка для разных диапазонов ускоряющего напряжения, оптимизация тока/размера пучка, скорости сканирования, яркости и контрастности, фокусировки, стигматоров,

ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫЙ МИКРОАНАЛИЗ

Рентгеноспектральный микроанализатор дисперсией по энергии системы INCA Energy

фирмы OXFORD instruments с определением элементов от Ве до U

Контакты