Отраслевая научно-исследовательская лаборатория авиационного материаловедения (ОНИЛ-4)

Направление деятельности:

Металлографические, электронно-микроскопические и рентгеноструктурные исследования металлов и сплавов;
Исследования физико-химических и механических характеристик металлов и сплавов;
Исследования в области порошковой металлургии и материаловедения; Исследования и разработка технологий получения литых изделий с заданными физико-химическими свойствами;
Исследование и разработка технологии получения композиционных материалов на базе системы «алюминий-кремний»;
Фрактодиагностика разрушения металлических материалов и конструкций;
Разработка прогрессивных технологий порошковых композиций в процессах легирования и выплавки сплавов;
Изучение влияния специальных условий эксплуатации на структуру и свойства материалов аэрокосмической техники;
Исследование влияния качества шихтовых материалов при изготовлении литых лопаток газотурбинных двигателей;
Разработка режимов термообработки, обеспечивающих повышение надежности деталей и узлов подъемно-транспортных механизмов.

Оборудование	Описание
Сканирующий нанотвердомер	Получение изображения поверхности путем сканирования. Позволяет: исследовать рельеф и структуру поверхности; построение карт распределения механических свойств материалов на поверхности одновременно с получением изображения рельефа поверхности. Позволяет исследовать: структуру многофазных материалов; распределение механических неоднородостей по поверхности; микро- и наноидентирование и склерометрия с последующим сканированием поверхности в области идентирования. Позволяет измерять: твердость материалов на субмикронном масштабе и характер их разрушения; количественное измерение модуля упругости со сверхвысоким пространственным методом силовой спектроскопии. Особенно успешно применяется для измерения свойств: тонких пленок и сверхтвердых материалов; нанофазные и композитные материалы; инженерные приложения; медицинские приложения; алмазы и алмазные порошки; стройства хранения информации; оптические компоненты; микро- и наноэлектромеханические системы (МЭМС и НЭМС); тонкие пленки; покрытия для снижения износа; ультрадисперсные твердые сплавы; новые сверхтвердые материалы; наноструктурированные материалы; полупроводниковые технологии; автомобильная промышленность.
Дифрактометр рентгеновский	Рентгенооптическая схема Брэгг-Брентано; диапазон углов сканирования, 2Θ град. -100 + 165; минимальный шаг сканирования, 2Θ град.; точность позиционирования, 2Θ и Θ град ± 0.005; транспортная скорость, о/мин 720; Скорость счета, имп/с 5×10 в 5 степени; потребляемая мощность, кВт 5.5; питание, В/Гц 220/50; габаритные размеры, мм 1100 х 1800 х 1050; Масса, кг 470.; Рентгеновский дифрактометр применяется при решении аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения: создание новых кристаллических материалов; определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов; разработка технологии получения материалов с заданными свойствами; определение ориентировки монокристаллических заготовок; исследование степени текстурированности и анализ дефектности тонких пленок; анализ фазового состава сырья, продукции и промышленных отходов; исследование фазовых превращений и химических реакций; анализ термических деформаций и изменение структурных характеристик кристаллических материалов
Микроскоп VEGA II SBH с высоким и пониженным вакуумом в камере и с системой микроанализа Oxford INCA Energy 250 ADD	Уникальная четырехлинзовая электронная оптика с использованием промежуточной линзы для оптимизации формы и размера пучка, запатентованная компанией Tescan, предназначена для получения изображений в различных режимах; мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают быстрое достижение рабочего вакуума; широкий выбор детекторов и аксессуаров; Анализирует микро- и макроструктуру. Анализ фрактограмм поверхности излома. Исследование структур анодных и напыленных слоев на образцах и тонких пленок. П оэлементный химический анализ в локальной области до 2 нм. Рентгеновское исследование на вторичных электронах распределение элементов по поверхности образца

Оборудование

Описание

Сканирующий нанотвердомер

Получение изображения поверхности путем сканирования.
Позволяет:

исследовать рельеф и структуру поверхности;
построение карт распределения механических свойств материалов на поверхности одновременно с получением изображения рельефа поверхности.

Позволяет исследовать:

структуру многофазных материалов;
распределение механических неоднородостей по поверхности;
микро- и наноидентирование и склерометрия с последующим сканированием поверхности в области идентирования.

Позволяет измерять:

твердость материалов на субмикронном масштабе и характер их разрушения;
количественное измерение модуля упругости со сверхвысоким пространственным методом силовой спектроскопии.

Особенно успешно применяется для измерения свойств:

тонких пленок и сверхтвердых материалов;
нанофазные и композитные материалы;
инженерные приложения;
медицинские приложения;
алмазы и алмазные порошки;
стройства хранения информации;
оптические компоненты;
микро- и наноэлектромеханические системы (МЭМС и НЭМС);
тонкие пленки;
покрытия для снижения износа;
ультрадисперсные твердые сплавы;
новые сверхтвердые материалы;
наноструктурированные материалы;
полупроводниковые технологии;
автомобильная промышленность.

Дифрактометр рентгеновский

Рентгенооптическая схема Брэгг-Брентано; диапазон углов сканирования, 2Θ град. -100 + 165; минимальный шаг сканирования, 2Θ град.; точность позиционирования, 2Θ и Θ град ± 0.005; транспортная скорость, о/мин 720;

Скорость счета, имп/с 5×10 в 5 степени; потребляемая мощность, кВт 5.5; питание, В/Гц 220/50; габаритные размеры, мм 1100 х 1800 х 1050;

Масса, кг 470.;

Рентгеновский дифрактометр применяется при решении аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения:

создание новых кристаллических материалов;
определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов;
разработка технологии получения материалов с заданными свойствами;
определение ориентировки монокристаллических заготовок;
исследование степени текстурированности и анализ дефектности тонких пленок;
анализ фазового состава сырья, продукции и промышленных отходов;
исследование фазовых превращений и химических реакций;
анализ термических деформаций и изменение структурных характеристик кристаллических материалов

Микроскоп VEGA II SBH с высоким и пониженным вакуумом в камере и с системой микроанализа Oxford INCA Energy 250 ADD

Уникальная четырехлинзовая электронная оптика с использованием промежуточной линзы для оптимизации формы и размера пучка, запатентованная компанией Tescan, предназначена для получения изображений в различных режимах;
мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают быстрое достижение рабочего вакуума;
широкий выбор детекторов и аксессуаров;
Анализирует микро- и макроструктуру.
Анализ фрактограмм поверхности излома.
Исследование структур анодных и напыленных слоев на образцах и тонких пленок. П
оэлементный химический анализ в локальной области до 2 нм.
Рентгеновское исследование на вторичных электронах распределение элементов по поверхности образца

Отраслевая научно-исследовательская лаборатория авиационного материаловедения (ОНИЛ-4)

Контакты