Растровая электронная микроскопия
АНАЛИТИЧЕСКИЙ СКАНИРУЮЩИЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП
С БОЛЬШОЙ КАМЕРОЙ И УВЕЛИЧЕННЫМ МОТОРИЗОВАННЫМ СТОЛИКОМ
TESCAN VEGA
Уникальная четырехлинзовая электронная оптика с использованием промежуточной линзы для оптимизации формы и размера пучка, запатентованная компанией Tescan,предназначена для получения изображений в различных режимах;
Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают быстрое достижение рабочего вакуума;
Широкий выбор детекторов и аксессуаров.
| разрешение | 3,0нм при 30Кв |
| рабочий вакуум | более 1х102Па |
| рабочие режимы | разрешение, глубина, поле, широкое поле, каналирование |
| увеличение | непрерывное от 4х до 1000 000х |
| ускоряющее напряжение | от 200В до 30кВ |
| источник электронов | вольфрамовый катод с термоэлектронной эмиссией |
| особенности сканировангия | динамический фокус, сканирование по линии в точке, коррекция наклона образца, 3D пучок |
| размер изображения | до 8192х8192 пикселей, 65536 градаций серого, 3 размера изображения в реальном времени, 10 для записи в файл, соотношение сторон 1:1, 2:1 или 4:3 |
| управление микроскопом | графический интерфейс Vega на персональном компьютере под управлением WindowsTM, с использованием клавиатыры, ,мыши трекбола |
| автоматические процедуры | контроль вакуума, накал катода, юстировка пушки, центрирование пушки и апертуры в различных режимах сканирования, подстройка для разных диапазонов ускоряющего напряжения, оптимизация тока/размера пучка, скорости сканирования, яркости и контрастности, фокусировки, стигматоров, |
ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫЙ МИКРОАНАЛИЗ
Рентгеноспектральный микроанализатор дисперсией по энергии системы INCA Energy
фирмы OXFORD instruments с определением элементов от Ве до U
